Кремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/Силиконовая



Сохраните в закладки:

Цена:3 353,93RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Advanced Materials Research Specialist Store

Advanced Materials Research Specialist Store

Магазина Advanced Materials Research Specialist Store работает с 18.11.2015. его рейтинг составлет 85.71 баллов из 100. В избранное добавили 360 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.7 в продаже представленно 2266 наименований товаров, успешно доставлено 86 заказов. 7 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

Кремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/Силиконовая

История изменения цены

*Текущая стоимость 3 353,93 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Feb-23-2026 4258.55 руб. 4343.38 руб. 4300.5 руб.
Jan-23-2026 3454.78 руб. 3523.32 руб. 3488.5 руб.
Dec-23-2025 4191.53 руб. 4275.84 руб. 4233 руб.
Nov-23-2025 4158.57 руб. 4241.97 руб. 4199.5 руб.
Oct-23-2025 3319.85 руб. 3385.26 руб. 3352 руб.
Sep-23-2025 4091.7 руб. 4173.7 руб. 4132 руб.
Aug-23-2025 4057.24 руб. 4138.81 руб. 4097.5 руб.
Jul-23-2025 4024.97 руб. 4104.0 руб. 4064 руб.

Описание товара

Кремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/СиликоноваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/СиликоноваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/СиликоноваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/СиликоноваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/СиликоноваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 10 мм * мм/Силиконовая


 Технические характеристики:   

1. Материал:Кремния высокой чистоты

2. Длина: 10 мм

3. Ширина: 10 мм

4. Толщина:650um,725um

5. Удельное сопротивление: 0,001-50/10,5 ∙см

6. Ориентация: <100>

7. Полировка: односторонняя полировка

8. Плоскость: <1 микрометр

9. Основное применение: Для Процесса переноса образцов синхротронного излучения, PVD/CVD покрытия подложки, магнетронного распыления, XRD, SEM, роста атомных сил образца, инфракрасной спектроскопии, флуоресцентной спектроскопии анализа испытательной подложки, субстрата, субстрата, молекулярный пучок эпитаксиального роста полупроводникового кристального рентгеновского анализа.   

 

   1456237


Смотрите так же другие товары: